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明美DIC金相顯微鏡觀察導(dǎo)電粒子
觀察導(dǎo)電粒子的個(gè)數(shù)以及分布，確認(rèn)導(dǎo)電粒子是否符合要求。這個(gè)是每個(gè)做液晶模組廠家的必須要求。
使用金相顯微鏡系列配合起偏，檢偏及DIC微分干涉，可以很好的觀察屏的導(dǎo)電粒子，確認(rèn)導(dǎo)電粒子個(gè)數(shù)是否符合要求。
首先，需要觀察導(dǎo)電粒子必須要有配有DIC 及起偏檢偏器的金相顯微鏡。對(duì)于觀察導(dǎo)電粒子來(lái)說(shuō)一般選用的鏡頭是要求為不超過(guò)20倍為最好，超過(guò)后會(huì)由于景深的問(wèn)題導(dǎo)致觀察效果模糊，無(wú)法觀察到最好的效果。
明美MJ33DIC超高性價(jià)比的金相顯微鏡是觀察導(dǎo)電粒子的最佳選擇！
以下是我司MJ33DIC配套我司自主研發(fā)的高清顯微成像系統(tǒng)拍攝的導(dǎo)電粒子圖片：
紅色區(qū)域?yàn)閷?dǎo)電粒子，在普通觀察方式底下看不到